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HAST試驗箱

HAST試驗箱

高加速壽命試驗箱(HAST試驗箱)是一種用于進行高加速應(yīng)力測試的設(shè)備。它主要用于評估電子元器件、電路板和其他電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境條件下的可靠性和耐久性。

在線聯(lián)系

適應(yīng)范圍

適用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。


測試項目

HAST測試項目主要包括:電性能測試、可靠性測試。其中,電性能測試包括電阻、電容、電感等參數(shù)的測試;可靠性測試則包括在高溫高濕條件下的耐壓、絕緣電阻、外觀等項目的測試。


測試范圍

溫度范圍:105~142.9℃

濕度范圍:75%~100%RH

壓力范圍:0.02~0.186Mpa


測試依據(jù)

《半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加速濕熱應(yīng)力試驗》JESD22-A110D-2010

《非氣密固態(tài)表面貼裝器件 潮濕/再流焊敏感度分級》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


試驗照片


  • HAST試驗箱1.jpg

    試驗設(shè)備

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