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HAST試驗(yàn)

HAST試驗(yàn)

高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試(HAST)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測(cè)試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測(cè)試 (USPCT)。其目的是通過將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到高于測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的極高水平來評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。這個(gè)過程在時(shí)間上加速了水分滲入樣品中。

在線聯(lián)系

服務(wù)能力

武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室擁有50L的HASA試驗(yàn)箱及應(yīng)力篩選系統(tǒng),可對(duì)潮濕環(huán)境下非密封封裝器件進(jìn)行可靠性評(píng)估。利用嚴(yán)酷的溫度,濕度及偏置條件來加速水穿過外部保護(hù)材料或者沿外部保護(hù)材料-金屬導(dǎo)體界面滲入,UHAST是不加偏置電壓,以確保能夠發(fā)現(xiàn)可能被偏壓掩蓋的失效機(jī)理(如電偶腐蝕)。


適用范圍

本測(cè)試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對(duì)于大型整機(jī),宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級(jí)別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗(yàn)。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。


相關(guān)資質(zhì)

CNAS


設(shè)備能力

溫度105℃~143℃±0.3 ℃、濕度75%RH~100%RH±3%RH、壓力1.2kg/cm2~4.0kg/cm2


測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》 

GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》


試驗(yàn)照片


  • HALT-HASA試驗(yàn)-1.jpg

    試驗(yàn)設(shè)備

  • HALT-HASA試驗(yàn)-2.jpg

    試驗(yàn)過程

  • HALT-HASA試驗(yàn)-3.jpg

    試驗(yàn)曲線

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